光周波数コムを用いることで、弾性表面波デバイスの表面で起こる極めて小さな振動現象の変位を、わずか1兆分の4メートルの精度で定量的に決定することに成功しました。
　この成果は、弾性表面波を利用した今後の電気・磁気デバイスの正確な特性評価への活用が期待されます。
A. Iwasaki, et al., APL Photonics 7 (10), 106101 (2022).

　光の位相変化量を正確に直接計測できるデュアルコム分光法を用いて、平板シリコン材料の厚さと屈折率を、非接触で、多波長に対して高精度に同時計測する手法を開発しました。
　今後、各種光学材料の正確な屈折率計測に応用することで、光学素子の高精度設計につながることが期待できます。
K. A. Sumihara, et al., Opt. Express 30 (2), pp. 2734-2747 (2022).